光电测试系统的原理及性能特点都有哪些？
光电测试系统利用光学原理进行精密检测的光学检测技术与光电变换相结合构成光电检测技术。光电检测技术是对光学量及大量非光学物理量转换成光学量进行测量的重要手段。
该测试系统测量频率高，它充分发挥了线阵CCD芯片的高频扫描特性，测量频率可达普遍在500HZ，高可达2000HZ，高于国内外同类产品。不仅如此其测量精度也是非常高的，它的精度等级高的高频CCD芯片，像元分辨率4.7UM。与物像比精确的光学系统相结合，全系产品高精度0.003MM，低精度也在0.02MM之内。
光电测试系统的性能特点有：
1、频域和时域的测试技术，包括：IMPS，IMVS，阻抗，光电压衰减，电量抽取和I-V曲线和IPCE测量
2、对有效扩散系数的计算和电子寿命的“自动”数据分析的“一键式”操作，适合于对频域测试技术比较陌生的使用者。
3、带有NIST可追溯校准文件的光源，并且日常可以对其进行校验检查
4、长期稳定的热效管理的光源
5、提供一系列的高亮度单色LED光源
6、软件包含全套电化学测试技术，包括：循环伏安(C-V)，恒电压-电流测试，系列的阻抗测试方法以及交流伏安法
7、辅助分压功能可用于同时检测阳极和阴极的阻抗和电压
8、Solartron Analytical的频率响应分析（FRA）技术，包含单波，频率扫描和多波技术兼容ModuLab和ModuLab XM全部功能。
光电测试系统是以激光、红外、光纤等现代光电子器件为基础，通过对被检测物体的光辐射，经光电检测器接收光辐射并转换为电信号，由输入电路、放大滤波等检测电路提取有用信息，再经模数转换接口输入计算机运算处理，之后显示输出所需要的检测物理量等参数。
